Представлены базовые понятия и определения в области теории надёжности электрорадиоизделий и радиоэлектронной аппаратуры различных классов. Даны базовые сведения о терминологии, основных понятиях и определениях в областях теорий вероятности и надёжности. Рассмотрены основные показатели надёжности РЭС, их взаимосвязь и методики расчета надёжности на различных этапах проектирования РЭС. Представлены способы создания высоконадёжных РЭС. Серьёзное внимание в пособии уделяется инженерным методам расчета надёжности как отдельных электронных компонентов, так и функциональных узлов и устройств РЭС в целом.
Федеральное государственное бюджетное учреждение культуры «Российская государственная библиотека для молодёжи»
Главное здание
107061 Москва, ул. Б. Черкизовская, дом 4, корпус 1 Метро «Преображенская площадь» (выход №5) Телефон для справок: +7 499 670-80-01 E-mail: info@rgub.ru
Филиал библиотеки — ИКК «Особняк В.Д. Носова»
107023 Москва, ул. Электрозаводская, 12, стр. 1 Метро «Электрозаводская» Телефоны для справок: +7 499 670-80-01 (доб. 600) E-mail: mansion@rgub.ru
![Черняев В. Н., Технология производства интегральных микросхем и микропроцессоров. [Учебник для вузов] — 1987](/searchcat/covers/RGUB-BIBL-0000698626.jpg)
![Панфилов Ю. В., Оборудование производства интегральных микросхем и промышленные роботы. [Учеб. для сред. спец. учеб. заведений] — 1988 (Учебник для техникумов)](/searchcat/covers/RGUB-BIBL-0000697342.jpg)
