Представлены основные положения и определения в области надежности электронных средств, приведены теоретические сведения по показателям надежности и методам ее расчета для восстанавливаемых и не-восстанавливаемых систем. Изложены основы оценки надежности сложных систем, в том числе с учетом надежности программных средств. Особое внимание уделено автоматизированному расчету показателей надежности электронных средств с применением САПР. Для студентов высших учебных заведений.
Федеральное государственное бюджетное учреждение культуры «Российская государственная библиотека для молодёжи»
Главное здание
107061 Москва, ул. Б. Черкизовская, дом 4, корпус 1 Метро «Преображенская площадь» (выход №5) Телефон для справок: +7 499 670-80-01 E-mail: info@rgub.ru
Филиал библиотеки — ИКК «Особняк В.Д. Носова»
107023 Москва, ул. Электрозаводская, 12, стр. 1 Метро «Электрозаводская» Телефоны для справок: +7 499 670-80-01 (доб. 600) E-mail: mansion@rgub.ru
![Малышева И. А., Технология производства интегральных микросхем. [Учеб. для сред. спец. учеб. заведений] — 1991 (Учебник для техникумов)](/searchcat/covers/RGUB-BIBL-0000344945.jpg)
